圖4顯示了4層印刷測試電路上的差分傳輸線的阻抗曲線。傳輸路徑一開始是*層(頂層)中的微帶線，然后通過一個過孔轉(zhuǎn)到第二層，此時仍然是微帶線，再通過第二個過孔回到*層表面。這個路線經(jīng)過幾次反復(fù)，最終在*層終止。顯然這個測試電路不能達(dá)到100Ω的目標(biāo)阻抗：微帶線和帶狀線的特征阻抗分別是Z0≈120Ω和Z0≈110Ω。從這張圖中可以明顯看出，過孔的電容因素會嚴(yán)重影響實際系統(tǒng)中的信號完整性，尤其是在高數(shù)據(jù)速率時更甚。

                                                    圖4：在FR4基板的兩個不同層上布線的差分線反射圖

     作為*一個例子，圖5顯示了USB 3.0連接器和電纜的反射圖。USB 3.0組件的額定阻抗是Z0=90Ω±7Ω。TDR設(shè)備仍然工作在100Ω的參考阻抗上(時間范圍t<12.2ns)。從測試適配器到USB 3.0連接器的轉(zhuǎn)換引起的*次反射發(fā)生在大約12.3ns，正如預(yù)期的那樣與所有測量一致。曲線3(綠色)代表開放式適配器的結(jié)果，其中的快速阻抗上升指示適配器的(高阻抗)末端。曲線4和5(紅色和藍(lán)色)代表兩種不同的USB 3.0電纜組件，每個組件由一個適配器和一個后續(xù)電纜組成。雖然電纜都在規(guī)范之內(nèi)，但適配器不符合規(guī)范。特別是紅色曲線表明*阻抗約為122Ω，產(chǎn)生了嚴(yán)重反射，進(jìn)而可能導(dǎo)致USB 3.0控制器降低數(shù)據(jù)速率。

      總之，所有例子清楚地表明，開發(fā)人員能夠利用DTDR-65直觀深入地觀察傳輸路徑。開發(fā)人員和質(zhì)檢人員的任務(wù)通常包含對所獲得的結(jié)果進(jìn)行容易理解的歸檔。這項任務(wù)非常重要，但遺憾的是非常耗時，而且單調(diào)乏味。不過這種不受歡迎的工作現(xiàn)在可以用內(nèi)置的自動化報告生成工具極大地簡化，只需幾次點(diǎn)擊就能形成圖形化和統(tǒng)計性的擴(kuò)展性評估結(jié)果。另外，對大多數(shù)普通線路類型來說還可以使用在線阻抗計算器。

 

                              圖5：帶開放電路(3)和兩個不同USB 3.0電纜組件(4和5)的USB 3.0適配器的反射圖

 支持廣泛應(yīng)用

     必要的附件包含了高質(zhì)量的相位調(diào)整過的同軸電纜以及TDR探針，可用于不同類型應(yīng)用：工業(yè)探針用于生產(chǎn)過程中的系列測量，高精度探針用于研發(fā)——見圖6。DTDR-65還具有*的電磁屏蔽性能，完全可以在電池供電的移動應(yīng)用中使用。

                                                      圖6：用于時域反射計DTDR-65的不同探針和附件